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Curriculum vitae
David Jafrancesco è nato a
Livorno (LI) il 01/11/1964 e vive a Firenze dal 1965. Dopo la
maturità scientifica si è iscritto al corso di laurea in Fisica presso
l’Università di Firenze, e si è laureato il 14/12/1992 discutendo una
tesi
applicativa sulla dinamica dei laser a CO2. Nel 1995 si è specializzato
in
Ottica presso l’Università di Firenze con una tesi di
spettrofotometria, e nel
1998 si è specializzato in Fisica Sanitaria, presso la stessa
Università, con
una tesi di elaborazione di immagini mediche.
Dal
Marzo 2004 lavora come tecnologo (ricercatore applicativo)
presso l’Istituto Nazionale di Ottica Applicata di Firenze, nel
Laboratorio di
fotometria ed illuminotecnica. Qui, in collaborazione con gli altri
membri del
Laboratorio, si occupa dei seguenti argomenti:
- progettazione
e verifica di sistemi ottici per la redirezione e la collezione della
luce
(lighting simulation);
- studio di
sistemi di controllo ottici per applicazioni di carattere industriale;
- progettazione
e misura delle prestazioni di componenti e sistemi ottici per
applicazioni
industriali e biomediche;
- definizione
delle procedure e dei metodi di misura, anche per misure e controlli
non standard (custom).
Dal 2000
al 2004 ha lavorato presso la ditta Sirio Panel S.p.A. di
Montevarchi (attualmente del gruppo Finmeccanica). Questa ditta
progetta e
produce sistemi di interfaccia uomo – macchina, applicati soprattutto
in campo
avionico, quali pannelli luminosi, annunciatori (spie luminose),
pushbutton,
display a LED e LCD e luci esterne. Qui David Jafrancesco si è occupato
dei
seguenti argomenti:
-
controllo e calibrazione
della strumentazione ottica e fotometrica
(fotometri, spettrometri, luxmetri, telecamere fotometriche e
fotocolorimetriche);
- realizzazione di procedure
per misure di luminanza, illuminanza, uniformità
di luminanza o illuminanza, colore, radianza NVIS (Night Vision Imaging
System), intensità luminosa e radiante;
- lighting simulation
(simulazione di distribuzione di luce) tramite
programma di calcolo ottico (Lambda Research TracePro) e progettazione
di
elementi ottici (array di microlenti, riflettori e altro);
- studio e validazione di
trattamenti interferenziali e di assiemi di filtri;
- progettazione di una linea
di misura di intensità radiante e luminosa;
- elaborazioni dati di misure
ottiche, connesse a nuovi programmi e tecniche
di misura.
In particolare, David
Jafrancesco è stato coinvolto nello sviluppo dei
seguenti programmi:
- strumentazione del cockpit
per i seguenti aerei ed elicotteri: Eurofighter
Typhoon 2000, Alenia Lockheed Martin C27J, Lockheed Martin JSF,
Eurocopter
NH90, Airbus A380;
- luci esterne per i seguenti
aerei ed elicotteri: Embraer ALX, Agusta A109.
Ha partecipato inoltre ad
altre varie attività connesse alla
ricerca e sviluppo, tra le quali in particolare: misure di riflettanza
tramite
BSDF, valutazione di nuovi tipi di display, messa a punto di
strumentazione
automatica per le misure ottiche.
Dal 1992
al 2000 ha collaborato con l’Istituto Nazionale di Ottica
Applicata di Firenze svolgendo diverse attività nel campo della
fotometria,
radiometria e spettrofotometria; in particolare, ha collaborato al
progetto
europeo SPECTRUM sullo sfruttamento della luce solare per
illuminazione,
verificando sperimentalmente le prestazioni del sistema di collezione
della
luce e valutando il rendimento fotometrico dell’intero sistema. Nello
stesso
periodo ha svolto varie attività di misura e caratterizzazione di
componenti
ottici, gestione di strumentazione, progettazione di sistemi di misura
e
collaudo
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